Insulated gate bipolar transistors; Wires; Delamination; Stress; Thermal stresses; Aging; Finite element analysis;
机译:老化的IGBT模块中与短路相关的热应力建模
机译:测量IGBT模块和压装IGBT的结壳热阻的方法的研究
机译:评估
机译:老化IGBT模块中短路相关热应力的预测
机译:IGBT模块的热模型及其在实时模拟器中的实现。
机译:通过平衡癌症样本中突变的专有覆盖范围来预测驱动模块
机译:老化IGBT模块中短路相关热应力的预测
机译:绝缘栅双极型晶体管(IGBT)功率模块中开关脉冲的热模拟。