Circuit faults; Computer bugs; Silicon; Training; Debugging; Algorithm design and analysis; Predictive models;
机译:硅后验证和调试期间将触发条件映射到触发单元
机译:将芯片执行的I / O序列映射到高级设计的后硅调试的自动方法
机译:嵌入式调试体系结构,用于在硅后验证过程中绕过阻塞错误
机译:DE-LOC:用于混合信号系统的有限观察和控制,预先硅和后硅后的设计验证和调试
机译:片上调试体系结构,用于提高后硅验证期间的可观察性。
机译:一种调试方案,用于改进硅后验证中的错误识别
机译:使用BipeD桥接前后硅调试
机译:利用多目标控制设计技术设计纵向飞行控制系统的有限质量评估(有无限II)