Dual-probes atomic force microscope; Akiyama probe; Line-width measurement;
机译:用双探针调频原子力显微镜/开尔文探针力显微镜观察聚二乙炔晶体中的各向异性电导
机译:注意:用于双向表征原子力显微镜探针的扫描电子显微镜样品架
机译:利用垂直入射激光束偏转传感器开发多环境双探针原子力显微镜系统
机译:Akiyama探针的表征应用于双探针原子力显微镜
机译:集成有用于微型四点探针和SECM-AFM的电极的原子力显微镜探针的制造。
机译:一种与氦离子显微镜集成的原子力显微镜用于相关纳米尺度表征
机译:斜入射激光束偏转传感器双探针原子力显微镜系统的开发