Charge carrier processes; HEMTs; MODFETs; Solid modeling; Mathematical model; Integrated circuit modeling; Gallium nitride;
机译:自热和陷阱对AlGaN / GaN HEMT的漏极瞬态响应的影响
机译:Gan-Cappe AlGaN / GaN和Alinn / GaN Hemts电流电压特性的分析模型,包括热和自热效应
机译:缓冲陷阱相关膝关节罢工和自加热中的影响在Algan / GaN Hemts中
机译:AlGaN / GaN HEMTS的快速模型生成,考虑自加热和电荷捕获效果
机译:处理表面状态的传输拐点和电荷陷阱对AlGaN / GaN HFET漏极电流的影响。
机译:使用AlGaN / GaN / AlGaN量子阱电子阻挡层的AlGaN / GaN HEMT中的高击穿电压
机译:缓冲陷阱相关的膝关节走动和alGaN / GaN HEmT中自加热的影响