Transistors; Stress; Degradation; Logic gates; Central Processing Unit; Analytical models; Integrated circuit modeling;
机译:BTI导致的数字电路寿命退化的工作量和温度相关评估
机译:通过使用BTI敏感和BTI - 不敏感环振荡器提取BTI诱导的降解的电压依赖性而没有时间因子
机译:通过微流体冷却释放3-D CPU的真正潜力
机译:捕获CPU组件中BTI引起的降级的真实工作量依赖性
机译:使用实时工作负载组合的同时多线程CPU的智能资源共享机制
机译:复合生物有效性因素对硼中子俘获治疗中所用中子俘获剂的类型和浓度的依赖性
机译:偏移量测量方法,可准确表征运放中BTI引起的降解