GaN; HEMT; degradation; reliability; transistor;
机译:GaN基MIS-HEMT中负偏压引起的阈值电压不稳定性和齐纳/界面陷阱机制
机译:GaN基功率HEMT中的可靠性和寄生虫问题:综述
机译:栅极部分凹陷的GaN基MIS HEMT中的陷印和可靠性问题
机译:GaN的血管中的可靠性和稳定性
机译:GaN基高电子迁移晶体管的可靠性研究
机译:使用极薄的栅极介电层综合电离剂量效应的全电离剂量效应
机译:使用高k电介质改善基于GaN的高电子迁移率晶体管(HEMT)的性能和可靠性