Contamination; Doping; Implants; Junctions; Semiconductor device modeling; Silicon; Temperature; channeling effect; energy contamination; ultra-low energy (ULE) implant; ultra-shallow junction (USJ);
机译:沟道条件下离子注入硅中初次沉积能量分布的计算机评估
机译:GaN双注入MOSFET中Mg注入剂量对MOS沟道特性的依赖性
机译:MG植入剂量依赖于GaN双植入MOSFET中MOS通道特性的依赖性
机译:B基光束线ULE植入物的引导效应和能量污染评估 - 工具和配方设置依赖性
机译:评估与苹果微生物污染相关的人类健康风险的工具。
机译:通过通道和通道周围:验证和比较用于评估通过离子通道进行离子渗透的自由能分布的微观方法
机译:锥形束CT作为QA工具评估患者设置的准确性
机译:植入损伤al沟道分析的能量依赖性。