failure analysis; non-volatile memory; floating gate; scanning probe microscopy;
机译:浮栅非易失性存储器中栅极电容耦合系数的提取:虚拟单元提取方法中浮栅存储器与参考晶体管失配影响的统计研究
机译:通过扫描非线性介电显微镜可视化存储在闪存浮栅中的电荷
机译:高级浮栅非易失性存储器中栅极耦合和栅极交叉干扰的3D仿真研究
机译:使用扫描探针显微镜确定具有浮栅的非易失性存储器单元的状态
机译:用于非易失性浮栅和电阻开关存储应用的金属氧化物电介质的研究。
机译:进行扫描探针显微镜法研究纳米级忆阻器的记忆效应
机译:通过扫描探针显微镜方法研究纳米级忆阻器的记忆效应