random-access storage; error statistics;
机译:3-D充电陷阱NAND闪存中的保留相关读干扰误差:观察,分析和解决方案
机译:通过控制能垒高度,改善了电压控制自旋电子学存储器(VoCSM)中的读取干扰和写入错误率
机译:通过针对高可靠性和低功耗企业固态硬盘(SSD)的铁电(Fe)-NAND闪存存储器的存储单元V-TH优化,改善了读取干扰,程序干扰和数据保留
机译:选择性刷新以避免STT-RAM主存储器中的读取干扰错误
机译:用于可靠的STT-RAM设计的错误表征和纠正技术。
机译:避免药物错误。阅读标签。
机译:读取mLC NaND闪存中的干扰错误:表征,缓解和恢复