首页> 外文会议>IEEE Regional Symposium on Micro and Nano Electronics >Calibration of the density-gradient TCAD model for germanium FinFETs
【24h】

Calibration of the density-gradient TCAD model for germanium FinFETs

机译:锗FinFET的密度梯度TCAD模型的校准

获取原文

摘要

We demonstrate that the density-gradient TCAD model can reproduce the results of multi-band Schrodinger-Poisson simulations for quantum confinement in scaled germanium FinFETs with a single fitting parameter that varies by surface orientation, but is independent of doping level and fin thickness.
机译:我们证明了密度梯度TCAD模型可以重现多波段Schrodinger-Poisson模拟的结果,该量子带化的锗FinFET中的量子限制具有单个拟合参数,该参数随表面取向而变化,但与掺杂水平和鳍片厚度无关。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号