机译:混合FDSOI /批量高k /金属栅低功耗(LP)技术中局部反向偏置对性能的影响
机译:高k /金属栅UTBB-FDSOI器件建模的多尺度策略,重点是反偏压对迁移率的影响
机译:研究衬底取向对超薄埋入氧化物(UTBOX)FDSOI High-K Metal Gate技术性能的影响
机译:通过混合集成从Bulk到UTBB FDSOI技术的完整28nm高k /金属栅电路的首次演示
机译:快速热CVD高k栅极电介质和CVD金属栅电极的技术开发和研究,用于未来的ULSI MOSFET器件集成:氧化锆和氧化ha。
机译:栅堆叠结构和工艺缺陷对32 nm工艺节点PMOSFET中NBTI可靠性的高k介电依赖性的影响
机译:高k金属栅极UTBB-FDSOI器件中的有效场和通用迁移率