X線透過法による磁化曲線測定手法の開発

摘要

X線コンプトン散乱は，電荷による散乱項のほかスピンによる散乱項を持つ.円偏光X線を照射しコンプト ン散乱強度を測定することにより，試料のスピン磁化を求めることができる.また，わずかであるが透過X線強度も磁化の大きさに依存する.我々は，コンプトン散乱全断面積のスピン依存性を実証し，磁化曲線の 測定に成功した.