CMOS; DOUB; FTF; LABIR; MCU; MNT; SRAM; electronic system; logic device; soft-error; terrestrial neutron;
机译:CMOS器件中的激光诱导闩锁筛选和缓解
机译:CMOS 65 nm SRAM中Alpha发射器引起的软错误率的地下实验和建模
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机译:中子诱导CMOS器件和部件诱导软误差的量化和缓解策略
机译:高速CMOS通信设备中的单事件表征和缓解。
机译:超越CMOS:III-V器件RF MEMS和其他异种材料/器件与Si CMOS的异构集成以创建智能微系统
机译:基于Synchrotron辐射的X射线微基分析在铬黄色涂料和相关CR化合物中诱导的损坏:评估量化和缓解策略
机译:CmOs Ram的软错误敏感性:依赖于电源电压