Silicon compounds; Strips; Adhesives; Bending; Dielectric measurement; Silicon; Dielectrics;
机译:摩擦和载荷参数在四点弯曲附着力测量中的作用
机译:铜和坡莫合金系统的四点弯曲附着力测量
机译:优化四点弯曲测试的精度以测量薄膜附着力
机译:用于40nm技术Cu / Nblk界面附着力测量的四点弯曲方法学开发
机译:从第一性原理和计算热力学向光伏应用研究Cu-Zn-Sn-S体系的相平衡和缺陷化学
机译:通过面内剪切和不对称四点弯曲试验测量挤出聚苯乙烯泡沫的剪切性能
机译:多层叠层薄膜对介质的粘附评价:四点弯曲和应力覆盖技术的比较。