机译:不同隧道壁垒的基于陷阱的编程/擦除行为的比较分析
机译:3-D SONOS闪存单元阵列晶体管的编程/擦除效率和保留特性的比较研究:从双栅极FET和FinFET到全栅FET的结构方法
机译:用于提取编程/擦除循环SONOS闪存单元中接口状态能级的光电荷泵浦方法及其编程时间依赖性
机译:SONOS闪存的基于陷阱的编程/擦除行为与隧道电介质的比较分析
机译:具有高κ电介质的SONOS型闪光灯的编程特性模型。
机译:热孔编程和低温成型的SONOS闪存
机译:高密度和低压可编程缩放Sonos非易失性存储器,用于字节和闪存型EEPROM