首页> 外文会议>IEEE International Test Conference 2010 >Case study of scan chain diagnosis and PFA on a low yield wafer
【24h】

Case study of scan chain diagnosis and PFA on a low yield wafer

机译:低产量晶圆上扫描链诊断和PFA的案例研究

获取原文

摘要

In this poster, we share our industrial experiences on running chain diagnosis and PFA (Physical Failure Analysis) on a wafer that suffered from low yield. In addition, case study on PFA will be illustrated.
机译:在此海报中,我们分享了在产量低的晶圆上进行链条诊断和PFA(物理故障分析)的行业经验。此外,还将说明有关PFA的案例研究。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号