掌桥科研
一站式科研服务平台
科技查新
收录引用
专题文献检索
外文数据库(机构版)
更多产品
首页
成为会员
我要充值
退出
我的积分:
中文会员
开通
中文文献批量获取
外文会员
开通
外文文献批量获取
我的订单
会员中心
我的包量
我的余额
登录/注册
文献导航
中文期刊
>
中文会议
>
中文学位
>
中国专利
>
外文期刊
>
外文会议
>
外文学位
>
外国专利
>
外文OA文献
>
外文科技报告
>
中文图书
>
外文图书
>
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
美国国防部AD报告
美国能源部DE报告
美国航空航天局NASA报告
美国商务部PB报告
外军国防科技报告
美国国防部
美国参联会主席指示
美国海军
美国空军
美国陆军
美国海军陆战队
美国国防技术信息中心(DTIC)
美军标
美国航空航天局(NASA)
战略与国际研究中心
美国国土安全数字图书馆
美国科学研究出版社
兰德公司
美国政府问责局
香港科技大学图书馆
美国海军研究生院图书馆
OALIB数据库
在线学术档案数据库
数字空间系统
剑桥大学机构知识库
欧洲核子研究中心机构库
美国密西根大学论文库
美国政府出版局(GPO)
加利福尼亚大学数字图书馆
美国国家学术出版社
美国国防大学出版社
美国能源部文献库
美国国防高级研究计划局
美国陆军协会
美国陆军研究实验室
英国空军
美国国家科学基金会
美国战略与国际研究中心-导弹威胁网
美国科学与国际安全研究所
法国国际关系战略研究院
法国国际关系研究所
国际宇航联合会
美国防务日报
国会研究处
美国海运司令部
北约
盟军快速反应部队
北约浅水行动卓越中心
北约盟军地面部队司令部
北约通信信息局
北约稳定政策卓越中心
美国国会研究服务处
美国国防预算办公室
美国陆军技术手册
一般OA
科技期刊论文
科技会议论文
图书
科技报告
科技专著
标准
其它
美国卫生研究院文献
分子生物学
神经科学
药学
外科
临床神经病学
肿瘤学
细胞生物学
遗传学
公共卫生&环境&职业病
应用微生物学
全科医学
免疫学
动物学
精神病学
兽医学
心血管
放射&核医学&医学影像学
儿科
医学进展
微生物学
护理学
生物学
牙科&口腔外科
毒理学
生理学
医院管理
妇产科学
病理学
生化技术
胃肠&肝脏病学
运动科学
心理学
营养学
血液学
泌尿科学&肾病学
生物医学工程
感染病
生物物理学
矫形
外周血管病
药物化学
皮肤病学
康复学
眼科学
行为科学
呼吸学
进化生物学
老年医学
耳鼻喉科学
发育生物学
寄生虫学
病毒学
医学实验室检查技术
生殖生物学
风湿病学
麻醉学
危重病护理
生物材料
移植
医学情报
其他学科
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
主题
主题
题名
作者
关键词
摘要
高级搜索 >
外文期刊
外文会议
外文学位
外国专利
外文图书
外文OA文献
中文期刊
中文会议
中文学位
中国专利
中文图书
外文科技报告
清除
历史搜索
清空历史
首页
>
外文会议
>
IEEE International Test Conference 2010
IEEE International Test Conference 2010
召开年:
召开地:
出版时间:
-
会议文集:
-
会议论文
热门论文
全部论文
全选(
0
)
清除
导出
1.
Using context based methods for test data compression
机译:
使用基于上下文的方法进行测试数据压缩
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
2.
A roaming memory test bench for detecting particle induced SEUs
机译:
一个用于检测颗粒诱导的SEU的漫游记忆测试台
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
3.
Detecting and diagnosing open defects
机译:
检测和诊断未解决的缺陷
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
4.
DFM aware bridge pair extraction for manufacturing test development
机译:
支持DFM的桥对提取,用于制造测试开发
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
5.
Methodology for early and accurate test power estimation at RTL
机译:
在RTL进行早期和准确的测试功率估计的方法
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
6.
Copyright
机译:
版权
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
7.
Integration for innovation—Trends in test and Moore's Law
机译:
融合创新-测试趋势和摩尔定律
作者:
Truchard James
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
8.
ITC 2010 most significant paper award
机译:
ITC 2010最重要论文奖
会议名称:
《》
|
2010年
9.
Concurrent test supported by DFT techniques and ATE companies
机译:
DFT技术和ATE公司支持的并行测试
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
10.
Panel title: 3-D test —A new paradigm in semiconductor test
机译:
主题:3D测试—半导体测试的新范例
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
11.
AXIe®: Open architecture test system standard
机译:
AXIe®:开放式架构测试系统标准
作者:
Czamara Al
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
12.
AXIe® 2.0 and MVP-C: Open ATE software standards
机译:
AXIe®2.0和MVP-C:开放式ATE软件标准
作者:
Spargo Kenneth
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
13.
A novel approach to improve test coverage of BSR cells
机译:
一种提高BSR细胞测试覆盖率的新颖方法
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
14.
A MEMS based device interface board
机译:
基于MEMS的设备接口板
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
15.
Is test power reduction through X-filling good enough?
机译:
通过X填充降低测试功率是否足够好?
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
16.
A tester architecture suitable for MEMS calibration and testing
机译:
适用于MEMS校准和测试的测试仪架构
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
17.
The AB-filling methodology for power-aware at-speed scan testing
机译:
适用于功率感知的快速扫描测试的AB填充方法
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
18.
Scan chain securization though Open-Circuit Deadlocks
机译:
通过开路死锁扫描链证券化
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
19.
A practical scan re-use scheme for system test
机译:
实用的系统测试扫描重用方案
作者:
Lee Kelly
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
20.
Mutation-based diagnostic test generation for hardware design error diagnosis
机译:
基于突变的诊断测试生成,用于硬件设计错误诊断
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
21.
On generation of a universal path candidate set containing testable long paths
机译:
生成包含可测试长路径的通用路径候选集时
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
22.
System reliability evaluation using concurrent multi-level simulation of structural faults
机译:
使用结构故障的并行多级仿真进行系统可靠性评估
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
23.
Case study of scan chain diagnosis and PFA on a low yield wafer
机译:
低产量晶圆上扫描链诊断和PFA的案例研究
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
24.
Vendor-agnostic native compression engine
机译:
与供应商无关的本机压缩引擎
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
25.
Parity prediction synthesis for nano-electronic gate designs
机译:
纳米电子门设计的奇偶校验预测合成
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
26.
Multiple fault activation cycle tests for transistor stuck-open faults
机译:
多个故障激活周期测试,用于晶体管卡死开路故障
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
27.
ITC 2009 paper awards
机译:
ITC 2009论文奖
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
28.
Title page
机译:
封面
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
29.
Welcome message
机译:
欢迎留言
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
30.
Author index
机译:
作者索引
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
31.
Engineering paradise: Inspiring the next generation to build a smarter planet
机译:
工程天堂:激发下一代打造更智慧的星球
作者:
Cohn John
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
32.
TTTC: Test technology technical council
机译:
TTTC:测试技术技术委员会
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
33.
Post-manufacturing ECC customization based on Orthogonal Latin Square codes and its application to ultra-low power caches
机译:
基于正交拉丁方码的制造后ECC定制及其在超低功耗高速缓存中的应用
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
34.
Highly efficient parallel ATPG based on shared memory
机译:
基于共享内存的高效并行ATPG
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
35.
Structural approach for built-in tests in RF devices
机译:
射频设备内置测试的结构方法
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
36.
Practical active compensation techniques for ATE power supply response for testing of mixed signal data storage SOCs
机译:
用于ATE电源响应的实用有源补偿技术,用于测试混合信号数据存储SOC
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
37.
High-Volume Scan Analysis: Practical challenges and applications for industrial IC development
机译:
大容量扫描分析:工业集成电路开发的实际挑战和应用
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
38.
A high linearity compact timing vernier for CMOS timing generator
机译:
CMOS时序发生器的高线性度紧凑型时序游标
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
39.
Evaluation techniques of frequency-dependent I/Q imbalances in wideband quadrature mixers
机译:
宽带正交混频器中频率相关的I / Q不平衡的评估技术
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
40.
Synthetic DSP approach for novel FPGA-based measurement of error vector magnitude
机译:
基于DSP的新型基于FPGA的误差矢量幅度测量
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
关键词:
Automated Test Equipment (ATE);
Design For Test (DFT);
Device Under Test (DUT);
Digital Signal Processing (DSP);
Error Vector Magnitude (EVM);
Field Programmable Gate Arrays (FPGA);
Finite Impulse Response (FIR);
Radio Frequency Integrated Circuits (RFIC);
Vector Signal Analyzer (VSA);
41.
ADC linearity testing method with single analog monitoring port
机译:
具有单个模拟监控端口的ADC线性度测试方法
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
42.
Improving fault diagnosis accuracy by automatic test set modification
机译:
通过自动测试集修改来提高故障诊断的准确性
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
43.
Lessons from at-speed scan deployment on an Intel® Itanium® microprocessor
机译:
在英特尔®安腾®微处理器上进行快速扫描部署的经验教训
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
44.
Solutions for undetected shorts on IEEE 1149.1 self-monitoring pins
机译:
IEEE 1149.1自监视引脚上未检测到的短路的解决方案
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
关键词:
1149.1;
Board Test;
Boundary Scan;
JTAG;
Wire Interconnect;
hysteresis;
shorts;
45.
Surviving state disruptions caused by test: The “Lobotomy Problem”
机译:
测试导致的生存状态破坏:“肺叶切除问题”
作者:
Parker Kenneth P.
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
46.
Optimization of burn-in test for many-core processors through adaptive spatiotemporal power migration
机译:
通过自适应时空功率迁移优化多核处理器的老化测试
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
47.
Modeling TSV open defects in 3D-stacked DRAM
机译:
模拟3D堆叠DRAM中的TSV开放缺陷
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
48.
Optimization methods for post-bond die-internal/external testing in 3D stacked ICs
机译:
在3D堆叠式IC中进行键合后芯片内部/外部测试的优化方法
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
49.
RADPro: Automatic RF analyzer and diagnostic program generation tool
机译:
RADPro:自动射频分析仪和诊断程序生成工具
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
50.
Timing skew compensation technique using digital filter with novel linear phase condition
机译:
使用具有新型线性相位条件的数字滤波器的时序偏斜补偿技术
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
关键词:
ATE;
Digital Error Correction;
Digital Filter;
Digitally-Assisted Analog Technology;
Linear Phase;
Timing Skew;
51.
A diagnostic test generation system
机译:
诊断测试生成系统
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
52.
Mask versus Schematic - an enhanced design-verification flow for first silicon success
机译:
掩模与原理图-首次成功获得成功的增强型设计验证流程
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
53.
Experiences with parametric BIST for production testing PLLs with picosecond precision
机译:
使用参数BIST进行皮秒精度的生产测试PLL的经验
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
54.
Path coverage based functional test generation for processor marginality validation
机译:
基于路径覆盖的功能测试生成,用于处理器边缘验证
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
55.
Package test interface fixture considering low cost solution, high electrical performance, and compatibility with fine pitch packages
机译:
考虑低成本解决方案,高电气性能以及与小间距封装兼容的封装测试接口夹具
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
56.
Leveraging existing power control circuits and power delivery architecture for variability measurement
机译:
利用现有的功率控制电路和功率传输架构进行可变性测量
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
57.
On techniques for handling soft errors in digital circuits
机译:
关于处理数字电路中的软错误的技术
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
58.
Soft error reliability aware placement and routing for FPGAs
机译:
FPGA的软错误可靠性感知布局和布线
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
59.
Clock Gate Test Points
机译:
时钟门测试点
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
60.
Design and test of latch-based circuits to maximize performance, yield, and delay test quality
机译:
设计和测试基于锁存器的电路,以最大程度地提高性能,良率和延迟测试质量
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
61.
Testing of latch based embedded arrays using scan tests
机译:
使用扫描测试来测试基于锁存器的嵌入式阵列
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
62.
Clock control architecture and ATPG for reducing pattern count in SoC designs with multiple clock domains
机译:
时钟控制架构和ATPG,用于减少具有多个时钟域的SoC设计中的模式计数
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
63.
Towards effective and compression-friendly test of memory interface logic
机译:
进行有效且压缩友好的存储器接口逻辑测试
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
64.
Test cycle power optimization for scan-based designs
机译:
测试周期功率优化,用于基于扫描的设计
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
关键词:
ATPG;
DFT;
Power reduction;
power estimation;
scan test;
65.
Automated trace signals selection using the RTL descriptions
机译:
使用RTL描述自动选择跟踪信号
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
66.
QED: Quick Error Detection tests for effective post-silicon validation
机译:
QED:快速错误检测测试可进行有效的硅后验证
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
67.
Complete testing of receiver jitter tolerance
机译:
完整测试接收机抖动容限
作者:
Lyons Timothy D.
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
68.
New tools and methodology for advanced parametric and defect structure test
机译:
用于高级参数和缺陷结构测试的新工具和方法
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
69.
A low-cost ATE phase signal generation technique for test applications
机译:
用于测试应用的低成本ATE相位信号生成技术
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
70.
The scan-DFT features of AMD's next-generation microprocessor core
机译:
AMD下一代微处理器内核的scan-DFT功能
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
71.
Testing the IBM Power 7™ 4 GHz eight core microprocessor
机译:
测试IBM Power 7™4 GHz八核微处理器
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
72.
BIST of I/O circuit parameters via standard boundary scan
机译:
通过标准边界扫描的I / O电路参数的BIST
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
73.
A kernel-based approach for functional test program generation
机译:
基于内核的功能测试程序生成方法
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
74.
On maximizing the compound yield for 3D Wafer-to-Wafer stacked ICs
机译:
在最大限度地提高3D晶圆对晶圆堆叠IC的化合物产量方面
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
关键词:
3D integration;
compound yield;
matching criteria;
wafer matching;
wafer-to-wafer stacking;
75.
Error-locality-aware linear coding to correct multi-bit upsets in SRAMs
机译:
可识别错误位置的线性编码,可纠正SRAM中的多位翻转
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
76.
Shadow checker (SC): A low-cost hardware scheme for online detection of faults in small memory structures of a microprocessor
机译:
影子检查器(SC):一种低成本的硬件方案,用于在线检测微处理器的小内存结构中的故障
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
77.
Post-production performance calibration in analog/RF devices
机译:
模拟/ RF设备中的后期制作性能校准
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
78.
Increasing PRPG-based compression by delayed justification
机译:
通过延迟调整来增加基于PRPG的压缩
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
79.
Dynamic channel allocation for higher EDT compression in SoC designs
机译:
动态通道分配可在SoC设计中实现更高的EDT压缩
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
80.
Predictive analysis for projecting test compression levels
机译:
预测测试压缩级别的预测分析
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
81.
Defect-oriented cell-internal testing
机译:
面向缺陷的单元内部测试
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
82.
Modeling the impact of process variation on resistive bridge defects
机译:
模拟工艺变化对电阻桥缺陷的影响
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
关键词:
Resistive bridge fault;
deep-submicron defect;
fault model;
process variation;
83.
Automatic classification of bridge defects
机译:
自动分类桥梁缺陷
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
84.
A high density small size RF test module for high throughput multiple resource testing
机译:
用于高吞吐量多资源测试的高密度小尺寸RF测试模块
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
85.
nGFSIM : A GPU-based fault simulator for 1-to-n detection and its applications
机译:
nGFSIM:基于GPU的用于1-to-n检测的故障模拟器及其应用
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
86.
Systematic defect identification through layout snippet clustering
机译:
通过布局片段聚类进行系统性缺陷识别
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
87.
Hard to find, easy to find systematics; just find them
机译:
很难找到,容易找到系统的;只是找到他们
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
88.
Fault models and test methods for subthreshold SRAMs
机译:
亚阈值SRAM的故障模型和测试方法
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
89.
Detecting memory faults in the presence of bit line coupling in SRAM devices
机译:
在SRAM器件中存在位线耦合的情况下检测内存故障
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
关键词:
Memory tests;
SRAMs;
bit line coupling;
defects;
parasitic capacitance;
90.
A programmable BIST for DRAM testing and diagnosis
机译:
用于DRAM测试和诊断的可编程BIST
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
91.
Rapid FPGA delay characterization using clock synthesis and sparse sampling
机译:
利用时钟合成和稀疏采样快速进行FPGA延迟表征
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
92.
Principal Component Analysis-based compensation for measurement errors due to mechanical misalignments in PCB testing
机译:
基于主成分分析的补偿,以补偿PCB测试中由于机械未对准引起的测量误差
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
关键词:
Board testing;
Capacitive open testing;
93.
Board-level fault diagnosis using an error-flow dictionary
机译:
使用错误流字典的板级故障诊断
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
94.
Automated test program generation for automotive devices
机译:
汽车设备的自动化测试程序生成
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
95.
STIL P1450.4: A standard for test flow specification
机译:
STIL P1450.4:测试流程规格标准
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
96.
Concurrent test planning
机译:
并发测试计划
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
97.
Mining AC delay measurements for understanding speed-limiting paths
机译:
挖掘交流延迟测量以了解限速路径
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
98.
Commanded Test Access Port operations
机译:
命令测试访问端口操作
作者:
Whetse Lee
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
99.
Precision audio nulling instrumentation achieves near −140dB measurements in a production environment
机译:
精密音频调零仪器可在生产环境中实现近−140dB的测量
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
100.
Constrained ATPG for functional RTL circuits using F-Scan
机译:
使用F-Scan的功能性RTL电路的约束ATPG
会议名称:
《IEEE International Test Conference 2010》
|
2010年
意见反馈
回到顶部
回到首页