Electric breakdown; Stress; Hafnium compounds; Market research; Dielectrics; Degradation; Spectroscopy;
机译:用正电子an没和光致发光光谱研究碱金属离子掺杂的MgO纳米晶体中的空位缺陷和缺陷簇
机译:电子自旋共振揭示了与(100)Si上功能性HfO2层中正电荷俘获有关的缺陷:氧空位的证据吗?
机译:La0.2Sr0.8Fe0.8Cr0.2O3-sigma的应力诱导的扩散和缺陷化学,第3部分。基于缺陷化学的建模
机译:基于CAFM的HfO2应力诱发缺陷的光谱学,具有聚类模型和亚稳态空位缺陷状态的实验证据
机译:复合半导体中的缺陷和缺陷簇
机译:硅树脂中的缺陷:空位簇扩展线缺陷和硅藻土
机译:通过电子自旋共振显示的功能性HFO2层的正电荷诱捕与正电荷俘获相关的缺陷:氧气空位的证据?
机译:级联损伤条件下缺陷演化的速率理论模型:空位型级联残余物的影响及其在缺陷生产表征中的微观结构分析