3D Integrated Circuits (ICs); Statistical timing analysis;
机译:由于多个过程中同时发生变化而导致的CMOS电路延迟分布的分析模型
机译:模拟微流体分析装置中四极管阻抗配置的灵敏度分布变化的影响
机译:存在过程变化和负偏置温度不稳定性效应的静态随机存取存储单元读取裕度概率分布函数的解析模型
机译:3D-GCP:一个分析模型的影响范围对3D IC的关键路径延迟分布
机译:在临界速度下的3D动态火车-轨道相互作用模型的现场和分析研究。
机译:命令信号功率分配处理延迟和速度缩放对神经控制设备的影响
机译:3D-GCP:工艺变化对3D IC的关键路径延迟分布的影响的分析模型*
机译:采用蒙特卡罗关键路径建模系统评价屋面钻/面钻和刀具/面钻的地下采矿维修延误。最终技术报告