stacking faults; majority carrier conduction; leakage current; DMOSFET; BJT;
机译:利用器件仿真研究影响4H-SiC结势垒肖特基二极管反向漏电流的堆叠故障
机译:重组诱导的堆垛层错:六角SiC的一般机制的证据。
机译:来自半环形阵列的堆叠故障对10 kV 4H-SiC PiN二极管电性能的影响
机译:重组诱发的堆叠故障对10 kV SiC DMOSFET的多数载流子传导和反向漏电流的影响
机译:高压(> 10 kV)4H-SiC MPS二极管的设计,制造和表征
机译:通过室温μ-光致发光和μ-拉曼分析表征3C-SiC外延层截面中的4H和6H类堆积缺陷
机译:50 kVA SIC转换器的电力损耗研究,包括逆转传导现象
机译:固态故障限流器开发。 15kV ssCL电源堆的设计和测试更新。