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机译:用等离子充电探针预测等离子充电引起的栅氧化物隧穿电流和天线相关性
Shawming Ma; Mcvittie J.P.;
机译:用等离子充电探针预测等离子充电引起的栅极氧化物损伤
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机译:使门与身体接触以释放等离子体感应充电的方法
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