机译:超导层非均质开裂对高温超导层包覆导体带中电压-电流曲线,临界电流和n值的影响
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机译:了解为什么谷物边界限制了Fe基超导体的临界电流密度,并探讨了提高电流密度的方法
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机译:低温测量的实验技术:低温测量的低温设计,材料性能和超导体临界电流测试实验技术,用于低温测量:低温恒温器设计,材料特性和超导体临界电流测试,杰克W. ekin,牛津U.按,纽约,2006年。$ 125.00(673 pp)。 ISBN 978-0-19-857054-7
机译:微观衍射测量晶粒取向对高温超导体临界电流的影响