Logic gates; Gallium nitride; Voltage measurement; Switches; Temperature measurement; Blanking; Inductance;
机译:AlGaN / GaN HEMT中用于沟道温度检测的电学方法和拉曼光谱的实验基准
机译:校正计数率检测极限和样品/空白时间分配方法
机译:气相色谱法估算挥发性有机化合物的检测限和定量限的信噪比,空白测定和线性回归方法的比较
机译:平行GaN E-HEMT相脚的去饱和检测
机译:GaN-SiC界面处具有GaN微坑的AlGaN / GaN HEMT中的散热分析
机译:不同修复方法对常关P-GaN HEMT电性能的影响
机译:用于使用空白自适应限制的DDPCR数据的自动校正算法(ALPACA)和错误阳性事件的校正改善了突变检测的特异性