Line Edge Roughness (LER); Power Spectral Density (PSD); SEM metrology; image digitization; synthesized images;
机译:使用高压CD-SEM的EUV抗蚀剂的CD计量:收缩率,图像清晰度,可重复性和线条边缘粗糙度
机译:扫描电子显微镜中的三维形态计量学:一种使用立体对数字化图像和数字图像分析对微观结构进行精确尺寸和角度测量的技术。
机译:接触孔层的SEM图像边缘到边缘误差提取
机译:通过SEM图像线边缘粗糙度测量:图像数字化的影响及其缓解
机译:数字识别和照相图像模式与色彩真实感在图像识别记忆任务中的交互作用比较研究(信号检测,研究)。
机译:利用离子束铣削后的应变场SEM图像上的数字图像相关性测量薄膜的残余应力
机译:了解三维侧壁粗糙度对扫描电子显微镜图像中观察到的线边粗糙度的影响