Temperature measurement; Plasma temperature; Temperature distribution; Thin film transistors; Temperature dependence; Current measurement;
机译:非晶态铟镓锌氧化物薄膜晶体管中正偏压下阈值电压漂移的时效两阶段统一拉伸指数模型
机译:栅极电介质对非晶铟镓锌氧化锌薄膜晶体管阈值电压不稳定性的影响
机译:基于基于电压的调制技术,其使用超氧化钾用于非晶铟 - 镓 - 氧化锌薄膜晶体管
机译:非晶铟 - 镓 - 氧化锌薄膜晶体管阈值电压,迁移率和饱和系数的变化
机译:铟镓锌氧化物和锌锡氧化物薄膜晶体管的制造工艺评估和负偏压照明应力研究。
机译:非晶铟 - 镓 - 氧化锌膜质量与薄膜晶体管性能的相关性研究
机译:基于物理的非晶氧化物半导体薄膜晶体管阈值电压模型