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【24h】

Graded Ge1−xSnx photodetectors fabricated on Si substrates by rapid melt growth method

机译:通过快速熔体生长方法在Si衬底上制造渐变的Ge 1-x Sn x 光电探测器

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摘要

Near-infrared absorption at 2000-nm wavelength is observed in a GeSn metal-semiconductor-metal (MSM) photodetector on a Si substrate. The device is fabricated by rapid melt growth method with graded Sn concentration up to 5-10%.
机译:在Si基板上的GeSn金属-半导体-金属(MSM)光电探测器中观察到了2000 nm波长的近红外吸收。该设备是通过快速熔体生长方法制造的,其中Sn的梯度浓度高达5-10%。

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