Aging; Degradation; Integrated circuit modeling; Logic gates; Reliability; Stress; Transistors;
机译:数字电路中活动相关的NBTI老化的设备到电路框架
机译:NBTI引起的纳米级CMOS器件动态变化的研究:建模,实验证据以及对电路的影响
机译:技术规模效应对NBTI的相对影响以及工艺变化对数字电路可靠性的影响
机译:从分析NBTI设备模型到复杂数字电路的可靠性评估
机译:研究氧化物击穿,热载流子和NBTI对MOS器件和电路可靠性的影响。
机译:由多光谱数字皮肤病变分析设备为黑色素瘤和其他高危色素病变提供的诊断预测概率模型的评估及其对活检决定的影响
机译:高级CMOS器件和电路NBTI的预测性等成模型