GaN; Gallium Nitride; wide bandgap; double pulse test; device characterization; cross-talk; cross conduction;
机译:650V增强模式GaN HEMT用于低温冷却电力电子的表征及故障分析
机译:具有5nm GaN通道,510mS / mm和0.66的增强模式N极性GaN MOS-HFET
机译:基于偏振诱导的掺杂和Ingan / GaN / AlGaN异质结构的增强模式凹陷栅极P沟道HFET模拟
机译:用于相位腿部拓扑中增强模式650V GaN HFET的交叉传导分析
机译:增强型AlGaN / GaN晶体管的制造技术和器件仿真。
机译:面向增强模式特性的具有双AlGaN势垒设计的嵌入式栅AlGaN / GaN MIS-HEMT研究
机译:AlGaN / GaN HFET的鳍和岛隔离以及AlGaN / GaN HFET的漏电流特性随温度变化的模型