3D inspection; micro bumps; copper pillar bumps; laser triangulation;
机译:高分辨率3D X射线显微镜,用于堆叠式芯片封装中的芯片间微凸点互连的无损失效分析
机译:接头尺寸和加工对Sn-3Ag-0.5Cu焊点断裂的影响:在3D封装中的微型凸点上的应用
机译:3D芯片堆叠封装微凸点互连的界面粘合强度和电迁移的第一性原理计算
机译:3D包装中使用的微肿块3D检查挑战
机译:用于3D IC封装技术的Cu-Sn微型凸块的机械可靠性挑战。
机译:3D扫描和3D测量的牙科金属添加剂制造检验中的电子质量控制
机译:无需显式3D重建即可对晶圆凸点质量进行3D检测。