Multiple Cell Upsets (MCUs); memories; radiation; reliability; scrubbing;
机译:具有SEC和软错误清除功能的单工和双工存储系统的可靠性分析
机译:具有SEC和软错误清除功能的单工和双工存储系统的可靠性分析
机译:使用块奇偶校验提高针对软错误的内存可靠性
机译:设计Ad-hoc擦洗序列,提高对软误差的记忆可靠性
机译:设计低成本的纠错方案以提高存储器的可靠性。
机译:考虑故障排除效率和错误产生的测试覆盖软件可靠性模型
机译:用于FpGa中软错误缓解的异构配置存储器擦除
机译:认知技能处理顺序的记忆及其在绩效错误中的作用