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EXPERIMENTAL BENCHMARKING OF PARTIAL SHADING EFFECT ON THIN-FILM AND CRYSTALLINE-SILICON SOLAR PHOTOVOLTAIC MODULES

机译:薄膜和晶体 - 硅太阳能光伏模块部分遮阳效应的实验基准

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摘要

Partial shading affects the performance and reliability of thin-film and crystalline-silicon (c-Si) photovoltaic (PV) modules. In this paper, the thin-film and c-Si modules are experimentally benchmarked by introducing various partial shading patterns over the modules. More specifically, experiments are performed using SPI-SUN 5600 SLP-based test-rig. The benchmarking reveals that thin-film and c-Si technologies behave differently under the same shading patterns. Furthermore, thermographic images are also presented to explore the effect of partial shading on both modules.
机译:局部阴影影响薄膜和晶体 - 硅(C-Si)光伏(PV)模块的性能和可靠性。 在本文中,薄膜和C-Si模块通过在模块上引入各种部分着色图案来实验地基准。 更具体地,使用基于SPI-SUN 5600 SLP的试验台进行实验。 基准测试揭示了薄膜和C-SI技术在相同的阴影模式下表现不同。 此外,还介绍了热成像图像以探索偏观在两个模块上的效果。

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