low-overhead; satisfiability; system-on-chip; test compression; test generation; transition delay fault;
机译:基于SAT的过渡时延故障压缩偏斜载荷测试生成
机译:基于种群演化和确定性初始化的压缩偏载延迟测试生成
机译:基于种群演化和确定性初始化的压缩斜率延迟测试生成
机译:基于SAT的转换延迟故障产生压缩偏移的载荷测试
机译:过渡故障和过渡路径延迟故障:测试生成,路径选择以及功能性侧面测试的内置生成。
机译:考虑故障排除效率和错误产生的测试覆盖软件可靠性模型
机译:使用自上而下的ATPG方法优化测试模式生成,以解决卡顿,过渡和小延迟缺陷故障