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机译:设计对采用垂直MOSFET的NAND闪存核心电路的影响
Sakui Koji; Endoh Tetsuo;
机译:建模随机晶粒边界陷阱对垂直门3D NAND闪存器件电行为的影响
机译:用于STI工艺256 Mb NAND闪存的稳健ESD保护电路的设计方法
机译:使用垂直MOSFET设计对NAND闪存核心电路的影响
机译:使用大规模NAND闪存的固态数据存储电路和系统。
机译:单pMOSFET介电性能下降对NAND电路性能的影响
机译:通过设计用于x8 NaND闪存器件的闪存控制器的性能增强
机译:nand设计的闪存装置的淬火试验方法和nand设计的闪存装置的淬火试验方法。
机译:用于存储单元的电路具有“与非”(NAND)闪存单元和连接的开关,以对存储在NAND闪存单元中的数据进行导通或阻断
机译:具有用于Nand闪存仿真的垂直嵌入式非易失性非易失性存储器的存储设备
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