CMOS; logic faults; test vectors; total dose; worst-case;
机译:基于剂量的基于单元的ASIC组合电路中逻辑故障的故障建模和最坏情况测试向量
机译:使用CMOS工艺表现出场氧化物泄漏的ASIC中总剂量引起的逻辑故障的最坏情况测试向量
机译:通过总剂量识别CMOS电路中引发的逻辑故障的最坏情况测试向量的方法
机译:基于细胞基ASICS组合电路诱导的逻辑断层的总剂量最坏情况测试向量
机译:暴露于核电离辐射的CMOS电路的故障分析和最坏情况的测试矢量生成。
机译:基于模块化细胞的生物传感器使用工程遗传逻辑电路检测和整合多种环境信号
机译:使用传统atpg的组合逻辑电路中的功能故障等效和诊断测试生成
机译:组合逻辑电路的最小故障测试时序设计和可测试实现