Lognormal distribution; process variations; spatial correlation; statistical analysis; subthreshold leakage;
机译:考虑背栅偏置和工艺变化的仅三参数MOSFET亚阈值电流CAD模型
机译:亚阈值MOSFET高频特性统计变化的分析和综合分析模型
机译:椭圆纳米线FET:用界面捕获充电引起的短通道亚阈值电流及其对亚阈值逻辑门的评估
机译:考虑过程变化的亚阈值电流的统计模型
机译:形状和外观的多尺度统计模型:在解剖结构变化建模中的应用。
机译:亚阈值神经多电极阵列数据的统计场论分析与建模
机译:亚阈值MOSFET高频特性统计变化的分析和综合分析模型