This paper presents the strategy used to verify the error logic in the Alpha 21364 microprocessor. Traditional pre-silicon strategies of focused testing or unit-level random testing yield limited results in finding complex bugs in the error handling logic of a microprocessor. This paper introduces a technique to simulate error conditions and their recovery in a global environment using random test stimulus closely approximating traffic found in a real system. A significant number of bugs were found using this technique. A majority of these bugs could not be uncovered using a simple random environment, or were counter-intuitive to focused test design.
本文介绍了用于验证Alpha 21364微处理器中的错误逻辑的策略。传统的集中测试或单元级随机测试的硅前策略只能在微处理器的错误处理逻辑中发现复杂的错误,从而产生有限的结果。本文介绍了一种技术,该技术使用随机测试刺激来模拟全局环境中的错误情况及其恢复,该刺激紧密逼近在实际系统中发现的流量。使用此技术发现了大量的错误。这些错误中的大多数是无法通过简单的随机环境发现的,或者与有针对性的测试设计有悖常理。 P>
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