首页> 外文会议>Solid State Device Research Conference, 1993. ESSDERC '93 >A New Intrinsic charge loss analysis on 16 Mb EPROM

【24h】

A New Intrinsic charge loss analysis on 16 Mb EPROM

机译：在16 Mb EPROM上进行新的本征电荷损耗分析

获取原文

页面导航

著录项
相似文献
相关主题

著录项

来源
《Solid State Device Research Conference, 1993. ESSDERC '93》|1993年|731-734|共4页
会议地点
作者
Mondon F.; Mazoyer P.; Guillaumot B.;
展开▼
作者单位

展开▼
会议组织
原文格式 PDF
正文语种
中图分类非金属材料;
关键词

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Analysis of Intrinsic Charge Loss Mechanisms for Nanoscale nand Flash Memory [J] . Lim Jun Yeong, Moon Pyung, Lee Sang Myung, Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on . 2015,第3期

机译：纳米级 nand 闪存的固有电荷损耗机理分析
2. Complete DNA sequence analysis for 16S ribosomal RNA gene of the leproma-derived, cultivable and nerve-invading mycobacterium HI-75. [J] . Sakai T, Matsuo E, Wakizaka A International Journal of Leprosy and Other Mycobacterial Diseases . 1999,第1期

机译：麻风源性，可培养和神经侵犯分枝杆菌HI-75的16S核糖体RNA基因的完整DNA序列分析。
3. High-temperature charge loss mechanism in a floating-gate EPROM with an oxide-nitride-oxide (ONO) interpoly stacked dielectric [J] . Pan C.-S., Wu K. IEEE Electron Device Letters . 1991,第9期

机译：带有氧化物-氮化物-氧化物（ONO）层间堆叠电介质的浮栅EPROM中的高温电荷损耗机制
4. A model for EPROM intrinsic charge loss through oxide-nitride-oxide (ONO) interpoly dielectric [C] . Wu K., Pan C.-S., Shaw J.J., Reliability Physics Symposium, 1990. 28th Annual Proceedings., International . 1990

机译：氧化物-氮化物-氧化物（ONO）互介电介质的EPROM本征电荷损失模型
5. Conditional Loss of Engrailed 1/2 in Rhombic Lip-Derived Neurons Increases Intrinsic Rhythmicity and Decreases Overall Variability of Eupneic Respiration [D] . ?Taylor, Angela P 2020

机译：在菱形唇源性神经元 ENGRAILED 1/2 的条件损耗增加 Eupneic 呼吸的内在节律性，并降低总体变异
6. Time-resolved HAXPES using a microfocused XFEL beam: From vacuum space-charge effects to intrinsic charge-carrier recombination dynamics [O] . Lars-Philip Oloff, Ashish Chainani, Masaharu Matsunami, -1

机译：使用微聚焦XFEL光束的时间分辨HAXPES：从真空空间电荷效应到固有的电荷-载流子复合动力学
7. A New Model for the Long Term Charge Loss in EPROMs [O] . Andreas Schenk And, Martin Herrmann 1994

机译：EPROM中长期电荷损失的新模型
8. Revised Emergency Cooling System LOCA (Loss-of-Coolant Accidents) Limits for PKL-Reactor Mark 16B-31 Charges [R] . Church, J. P. , Steimke, J. L. 1986

机译：修订的紧急冷却系统LOCa（冷却液失效事故）限制pKL-反应堆标记16B-31费用

获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号