首页> 外文会议>Solid State Device Research Conference, 1991. ESSDERC '91 >Silicon etched-groove permeable base transistor fabrication with cutoff frequencies (fT, fmax) above 25 GHz
【24h】

Silicon etched-groove permeable base transistor fabrication with cutoff frequencies (fT, fmax) above 25 GHz

机译:截止频率(f T ,f max )高于25 GHz的硅蚀刻沟槽可渗透基极晶体管制造

获取原文

摘要

We report the fabrication of etched-groove silicon permeable base transistors (PBTs) with mushroom-shaped 0.2-0.4 ¿m wide source fingers. This structure enables both the passivation of the Si finger sidewalls and the reinforcement of the platinum gate with a gold overlayer. The low base resistance and the optimized doping profile yielded devices with fT and fmax values up to 26 GHz.
机译:我们报告与蘑菇形的0.2-0.4×的宽源指的刻蚀沟槽的硅可渗透基极晶体管(PBTs)的制造。这种结构既可以钝化Si指侧壁,也可以用金覆盖层增强铂栅极。低基极电阻和优化的掺杂特性使得器件具有高达26 GHz的f T 和f max 值。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号