机译:用于数字电路单事件测试的内置自测(BIST)技术
机译:仪器V:易于维修:内置的校准和自检功能是缓解维修问题的两种方法。但是数字电路存在独特的问题
机译:新颖的基于电流传感器的内置CMOS集成电路$ I_ {rm DDQ} $测试方案
机译:振荡内置自测(OBIST)方案,用于模拟和混合信号集成电路的功能和结构测试
机译:MADBIST:一种内置的混合模拟数字集成电路自检方案。
机译:微流控气动逻辑电路和数字微处理器的气动综合微流体系统
机译:3-10GHz多频带OFDM超宽带接收机的系统级设计和RF前端实现,以及用于模拟和RF集成电路的内置测试技术
机译:定制LsI / VLsI电路的测试和可测试性的最新评估。第七卷。内置测试(BIT)和内置测试设备(BITE)