logic design; error detection; finite state machines; integrated memory circuits; sequential circuits; field programmable gate arrays; table lookup; finite state machines; low-overhead concurrent error detection; EMB; permanent faults; transient faults; sequential circuits; FPGA; embedded memory blocks; incorrect state transition; LUT;
机译:利用基于SRAM的FPGA的嵌入式存储模块实现的有限状态机的并发错误检测
机译:FPGA中基于嵌入式存储器模块的算术电路的节能设计
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机译:使用FPGA与嵌入式内存块实现的顺序电路中的并发错误检测
机译:具有并发错误检测功能的分组密码的紧凑硬件实现
机译:基于并行霍夫变换的直线检测及其在嵌入式视觉中的FPGA实现
机译:时序逻辑电路中并发错误检测的设计分集