SRAM chips; built-in self test; redundancy; fault tolerance; SRAM bank; word-oriented redundancy; built in self-repair; BISR circuit; reset period; faulty line referencing;
机译:使用混合冗余分析技术的SRAM自修复(MMBISR)内置的新型修改内存
机译:具有可选冗余功能的嵌入式SRAM的高级,更高效的内置自修复策略
机译:具有二维冗余的面向字RAM的低成本内置冗余分析方案
机译:使用内置自修复的SRAM面向词的冗余方法
机译:内置的自我测试和自我修复架构,用于容错的面向字的大容量存储器。
机译:当地医疗系统中的功利冗余 - 理论与方法论贡献
机译:具有二维冗余的内置半导体存储器自修复方案