SRAM chips; CMOS integrated circuits; integrated circuit yield; integrated circuit reliability; failure probability; parameter variations; nano-scale SRAMs; yield enhancement; access time failure; read/write stability failure; hold stability failure; stand-by mode;
机译:用于提高纳米级CMOS产量的SRAM阵列的故障概率建模和统计设计
机译:考虑参数变化影响的纳米级7T SRAM单元总漏电流的建模与估计
机译:输入的模型PDF参数对失效概率估计的影响
机译:纳米尺度SRAM参数变化导致的失效概率的建模与估计
机译:DAC和SRAM上大规模变化的分析和建模。
机译:利用多性状模型估算穆尔西亚诺-格拉纳迪纳山羊峰值产量产量和持久性状的遗传参数
机译:纳米级sRam中参数变化引起的失效概率的建模和估计,以提高产量
机译:不同参数变化的等效初始流量大小(EIFs)分布估计及失效概率预测