sequential circuits; fault diagnosis; logic arrays; combinational circuits; redundant transition fault; synchronous sequential circuit; test generation; untestable transition fault; logic optimization; benchmark circuit; fault diagnosis; logic arrays; co;
机译:使用测试路径约束识别顺序电路中的不可测试故障
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机译:组合式ATPG定理,用于确定顺序电路中无法测试的故障
机译:在同步顺序电路中识别不可衰减和冗余过渡故障的过程
机译:测试同步数字电路中的路径延迟故障。
机译:异步和同步状态之间的转换:小型神经电路中的相关理论
机译:关于消除同步时序电路中冗余故障的研究
机译:用布尔差分技术分析同步时序电路中的多个故障