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【24h】

Time to breakdown and voltage to breakdown modeling for ultra-thin oxides Tox>32/spl Aring/

机译：超薄氧化物的击穿时间和击穿电压建模Tox> 32 / spl Aring /

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来源
《》|2001年|P.20-25|共6页
会议地点
作者
Monsieur; F.; Vincent; E.; Roy; D.;
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正文语种
中图分类无线电电子学、电信技术 ;
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