MOSFET; semiconductor device models; polynomial approximation; hot carriers; harmonic distortion; analogue integrated circuits; integrated circuit design; semiconductor device reliability; MOSFET; threshold voltage modeling; hot-carrier effect; hot-carri;
机译:绝缘体上硅动态阈值电压MOS晶体管中热载流子退化的温度依赖性
机译:m.o.s.中感应的阈值电压偏移的简单数学模型通过在高温下测试晶体管
机译:负偏置温度不稳定性与热载流子驱动的130 nm技术p沟道晶体管的阈值电压降低的混合物
机译:一种模拟热载流子效应对MOS晶体管阈值电压的影响的简单方法
机译:应变对硅CMOS晶体管的影响:阈值电压,栅极隧穿电流和1 / f噪声特性。
机译:相关时间-0和热载波应力诱导FinFET参数变量:建模方法
机译:辐射应力影响对P沟道功率VDMOS晶体管阈值电压影响的建模与PSPICE模拟
机译:调制掺杂场效应晶体管中阈值电压的强反演模型:无意识接受器的作用。