首页> 外文会议> >Radiation effects in Micrel MIC4427 MOSFET drivers
【24h】

Radiation effects in Micrel MIC4427 MOSFET drivers

机译:Micrel MIC4427 MOSFET驱动器中的辐射效应

获取原文
获取外文期刊封面目录资料

摘要

Results of Co-60 total dose and heavy-ion latch-up testing indicate that the MIC4427 is capable of being used as a CCD clock driver in low dose rate space environments, up to a total dose of <50 krad(Si).
机译:Co-60总剂量和重离子闩锁测试的结果表明,MIC4427能够在低剂量率空间环境(总剂量小于50 krad(Si))中用作CCD时钟驱动器。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号