机译:通过栅极到漏极电容的测量,得出用于MOSFET中热载流子退化的统一模型
机译:器件缩放对热载流子感应界面和MOSFET中氧化物陷阱电荷分布的影响
机译:使用新型电荷泵技术研究侧向非对称沟道MOSFET中热载流子引起的界面陷阱分布
机译:热载体诱导被截止的载体和接口状态在由栅极 - 漏极电容测量中观察到的MOSFET中
机译:蒙特卡洛研究了低功率深亚微米n-MOSFET中的热载流子退化和器件性能。
机译:具有位置载流子散射相关性的准弹道漏电流电荷和电容模型对纳米级对称DG MOSFET有效
机译:通过栅漏电容测量评估亚微米n(金属氧化物半导体场效应晶体管)中热孔诱导的界面态和俘获的载流子