机译:硅基可重构器件在微波频率下工作的铁电薄膜:BST,PST之间的性能比较
机译:基于沉积在碳化硅上的不同压电膜的声波器件的理论研究
机译:用于能量收集装置的硅上外延压电Pb(Zr0.2Ti0.8)O3薄膜
机译:硅锯装置的一些铁电和压电薄膜的比较
机译:射频反应磁控溅射在低温下沉积在硅上的压电氮化铝薄膜的声波器件特性
机译:硅上外延PbZr0.45Ti0.55O3薄膜的铁电和压电特性的固有稳定性与晶粒倾斜的关系
机译:硅上外延PZT薄膜和器件的铁电和压电特性
机译:不同总电离剂量(TID)对压电mEms应用的铁电薄膜叠层和器件的影响。