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【24h】

Properties of ultrathin gate oxides grown in N2O-based oxidation ambients by rapid thermal processing

机译:通过快速热处理在基于N2O的氧化环境中生长的超薄栅极氧化物的性质

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摘要

Abstract: Ultra-thin gate oxides grown by rapid thermal processing in N$-2$/O-based oxidation ambients were evaluated. Gate oxide integrity was improved by incorporating more nitrogen in the thin gate oxides and by diluting oxidation ambients in inert gases. !2
机译:摘要:评价了在N $ -2 $ / O基氧化环境中通过快速热处理生长的超薄栅氧化物。通过在薄的栅极氧化物中加入更多的氮,并通过稀释惰性气体中的氧化环境,可以改善栅极氧化物的完整性。 !2

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