IBM Microelectronics, 2070 Route 52, Hopewell Junction, NY, 12533rnhhkang@us.ibm.com;
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机译:FIB平面图升空样品制备用于通过CO1.7FE1.3O4薄膜在CO1.7FE1.3O4薄膜中获得的周期纳米结构的TEM表征
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机译:用于TEM分析的碳纳米管复合样品制备的切片机切割工艺的改进。
机译:改进的样品选择和制备方法用于抽样计划用于促进鸡饲料中的黄曲霉毒素的快速可靠估计
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